PDF-4+數(shù)據(jù)庫(kù)專門(mén)用于無(wú)機(jī)材料的定性和定量分析。 擁有超過(guò)40萬(wàn)條數(shù)據(jù),條目含有粉末衍射數(shù)據(jù)、單晶結(jié)構(gòu)、二維德拜環(huán)、選區(qū)電子衍射(SAED)、電子背散射(EBSD) 等信息,可與第三方軟件如JADE、EVA、Highscor、PDXL等結(jié)合使用,實(shí)現(xiàn)Rietveld分析、全譜擬合、定量分析等增強(qiáng)性分析功能。
JADE 軟件采用全譜擬合和 Rietveld 方法分析 XRD 數(shù)據(jù),并且使用結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)計(jì)算模擬衍射圖,應(yīng)用于世界各地的 X 射線粉末衍射實(shí)驗(yàn)室,作為標(biāo)準(zhǔn)的 XRD 分析軟件。JADE 兼容不同品牌衍射儀收集的數(shù)據(jù),為用戶提供中立的結(jié)果。
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圖書(shū)館
2023-3-23